測量的標準方法(什么是測量.測量的主要有幾個(gè)測量方法)
1.什么是測量.測量的主要有幾個(gè)測量方法
測量這個(gè)概念太廣了。僅測繪學(xué)就分，大地測量，海洋測繪，工程測量，房產(chǎn)測量，等等。測繪學(xué)里還包含了攝影測量，遙感，還有地圖制圖。
根據不同的用途和目的，測繪的方法也不一定相同，要求也不一樣。
要量測某量的大小，就需要相應的度量單位，通常測量里用到的有長(cháng)度，角度，面積。亦也有溫度，重量，時(shí)間等等。
測量應用的領(lǐng)域太廣泛，測量方法實(shí)在很多，總的來(lái)說(shuō)，測量方法依據相關(guān)規范，得出的結果經(jīng)過(guò)統一認識，認可就行。
舉幾個(gè)常用測量方法，距離測量，角度測量，視距測量，，，水準測量。
2.測量按測量方式分類(lèi)和按測量方法分類(lèi)分別可分為哪些
按測量方式可分：
1、直接測量：無(wú)需對被測量與其他實(shí)測量進(jìn)行一定函數關(guān)系的輔助計算而直接得到被測量值得測量。
2、間接測量：通過(guò)直接測量與被測參數有已知函數關(guān)系的其他量而得到該被測參數量值的測量。
3、接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面直接接觸，并有機械作用的測力存在（如接觸式三坐標等）。
4、非接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面之間沒(méi)有機械的測力存在（如光學(xué)投影儀、氣動(dòng)量?jì)x測量和影像測量?jì)x等）。
5、組合測量：如果被測量有多個(gè)，雖然被測量（未知量）與某種中間量存在一定函數關(guān)系，但由于函數式有多個(gè)未知量，對中間量的一次測量是不可能求得被測量的值。這時(shí)可以通過(guò)改變測量條件來(lái)獲得某些可測量的不同組合，然后測出這些組合的數值，解聯(lián)立方程求出未知的被測量。
6、比較測量：比較法是指被測量與已知的同類(lèi)度量器在比較器上進(jìn)行比較，從而求得被測量的一種方法。這種方法用于高準確度的測量。
按測量方法可分：
1、直接測量法：不必測量與被測量有函數關(guān)系的其他量，而能直接得到被測量值的測量方法。
2、間接測量法：通過(guò)測量與被測量有函數關(guān)系的其他量來(lái)得到被測量值的測量方法。
3、定義測量法：根據量的定義來(lái)確定該量的測量方法。
4、靜態(tài)測量方法：確定可以認為不隨時(shí)間變化的量值的測量方法。
5、動(dòng)態(tài)測量方法：確定隨時(shí)間變化量值的瞬間量值的測定方法。
6、直接比較測量法：將被測量直接與已知其值的同種量相比較的測量方法。
7、微差測量法：將被測量與只有微小差別的已知同等量相比較，通過(guò)測量這兩個(gè)量值間的差值來(lái)確定被測量值的測量方法。
擴展資料：
系統誤差產(chǎn)生的原因：
1、傳感器、儀表不準確（刻度不準、放大關(guān)系不準確）
2、測量方法不完善（如儀表內阻未考慮）
3、安裝不當
4、環(huán)境不合
5、操作不當
系統誤差的判別：
1、實(shí)驗對比法，例如一臺測量?jì)x表本身存在固定的系統誤差，即使進(jìn)行多次測量也不能發(fā)現，只有用更高一級精度的測量?jì)x表測量時(shí)，才能發(fā)現這臺測量?jì)x表的系統誤差；
2、殘余誤差觀(guān)察法（繪出先后次序排列的殘差）；
3、準則檢驗法
馬利科夫判據是將殘余誤差前后各半分兩組， 若“Σvi前”與“Σvi后”之差明顯不為零， 則可能含有線(xiàn)性系統誤差。
阿貝檢驗法則檢查殘余誤差是否偏離正態(tài)分布， 若偏離， 則可能存在變化的系統誤差。將測量值的殘余誤差按測量順序排列，且設A=v12+v22+…+vn2, B=(v1-v2)2+(v2-v3)2？+…+（vn-1-vn）2+(vn-v1)2。
若|B/2A-1|>1/n^1/2，則可能含有變化的系統誤差。
系統誤差的消除：
1、在測量結果中進(jìn)行修正 已知系統誤差， 變值系統誤差， 未知系統誤差
2、消除系統誤差的根源
3、在測量系統中采用補償措施
4、實(shí)時(shí)反饋修正
參考資料來(lái)源：百度百科-測量方法
3.測量方法的分類(lèi)
1.直接測量和間接測量
按實(shí)測幾何量是否為欲測幾何量，可分為直接測量和間接測量。
1）直接測量
直接測量是指直接從計量器具獲得被測量的量值的測量方法。如用游標卡尺、千分尺。
(2)間接測量
間接測量是測得與被測量有一定函數關(guān)系的量，然后通過(guò)函數關(guān)系求得被測量值。如測量大尺寸圓柱形零件直徑D時(shí)，先測出其周長(cháng)L，然后再按公式D/求得零件的直徑D，如圖2-4所示。
2.絕對測量和相對測量
按示值是否為被測量的量值，可分為絕對測量和相對測量。
(1)絕對測量絕對測量是指被計量器具顯示或指示的示值即是被測幾何量的量值。如用測長(cháng)儀測量零件，其尺寸由刻度尺直接讀出。
(2)相對測量相對測量也稱(chēng)比較測量，是指計量器具顯示或指示岀被測幾何量相對于已知標準量的偏差，測量結果為已知標準量與該偏差值的代數和。
一般來(lái)說(shuō)，相對測量的測量精度比絕對測量的要高。
3.接觸測量和非接觸測量
按測量時(shí)被測表面與計量器具的測頭是否接觸，可分為接觸測量和非接觸測量
(1)接觸測量接觸測量是指計量器具在測量時(shí)，其測頭與被測表面直接接觸的測量。如用卡尺、千分尺測量公交。
(2)非接觸測量非接觸測量是指計量器具在測量是，其測頭與被測表面不接觸的測量。如用氣動(dòng)量?jì)x測量孔徑和用顯微鏡測量工件的表面粗糙度。
擴展資料：
從這個(gè)定義，我們就可以看出經(jīng)典物理的基本假設：
1.時(shí)間是絕對的，其含義是時(shí)間流逝的速率與空間位置和物體的速率無(wú)關(guān)；
2.空間是歐幾里德的，也就是說(shuō)歐幾里德幾何的假設和定律對空間是成立的；
3.經(jīng)典物理的第三個(gè)假設，就是質(zhì)點(diǎn)的運動(dòng)可以用位置作為時(shí)間的函數來(lái)描述。
根據愛(ài)因斯坦的相對論，時(shí)間是相對的，空間也不是歐幾里德的，但是絕對時(shí)間和歐幾里德空間對低速運動(dòng)（相對于光速）和宏觀(guān)世界是一個(gè)很好的近似，在相當高的精度上是正確的。因此在經(jīng)典物理中使用這樣的假設是合理的。
根據第三個(gè)假設，如果我們知道質(zhì)點(diǎn)的位置作為時(shí)間的函數，而且我們知道了質(zhì)點(diǎn)的質(zhì)量，那么我們就知道了所能知道的關(guān)于這個(gè)質(zhì)點(diǎn)的一切知識，由此可見(jiàn)，經(jīng)典物理的任務(wù)就是找出質(zhì)點(diǎn)的位置隨時(shí)間變化的函數。
參考資料：搜狗百科——測量方法
4.直徑測量的方法有幾種,分別是哪幾種
(l)用兩個(gè)方木塊和刻度尺配合進(jìn)行，如圖12.-4a所示。但應注意，測量前應檢查兩個(gè)方木塊是否能合嚴（即兩個(gè)與圓柱接觸的平面必須平行）
(2)用刻度尺直接在圓柱端面上測量。但測量時(shí)應注意直徑是最長(cháng)的弦。
(3)用卡鉗和刻度尺進(jìn)行測量，如圖1.2-4b。
(4)取直徑小又可彎曲的圓柱（如鐵絲），把它繞在桿上，用刻度尺測出若干直徑之和，如圖1.2-5。
(5)用游標卡尺、螺旋測微器等工具直接測量。其方法將在高中學(xué)生實(shí)驗部分介紹。
