CMP,即Chemical Mechanical Polishing,化學(xué)機械拋光。
CMP技術(shù)所采用的設備及消耗品包括:拋光機、拋光漿料、拋光墊、后CMP清洗設備、拋光終點(diǎn)檢測及工藝控制設備、廢物處理和檢測設備等。 CMP技術(shù)的概念是1965年由Monsanto首次提出。
該技術(shù)最初是用于獲取高質(zhì)量的玻璃表面,如望遠鏡等。1988年IBM開(kāi)始將CMP技術(shù)運用于4MDRAM 的制造中,而自從1991年IBM將CMP成功應用到64MDRAM 的生產(chǎn)中以后,CMP技術(shù)在世界各地迅速發(fā)展起來(lái)。
區別于傳統的純機械或純化學(xué)的拋光方法,CMP通過(guò)化學(xué)的和機械的綜合作用,從而避免了由單純機械拋光造成的表面損傷和由單純化學(xué)拋光易造成的拋光速度慢、表面平整度和拋光一致性差等缺點(diǎn)。 它利用了磨損中的"軟磨硬"原理,即用較軟的材料來(lái)進(jìn)行拋光以實(shí)現高質(zhì)量的表面拋光。
CMP拋光液是以高純硅粉為原料,經(jīng)特殊工藝生產(chǎn)的一種高純度低金屬離子型拋光產(chǎn)品,廣泛用于多種材料納米級的高平坦化拋光。 。
計算機:Chip multiprocessors,單芯片多處理器,也指多核心
電子:Chemical Mechanical Planarization,化學(xué)機械平坦化
綜合布線(xiàn):Plenum Cable,天花板隔層電纜
計算機:
CMP是由美國斯坦福大學(xué)提出的,其思想是將大規模并行處理器中的SMP(對稱(chēng)多處理器)集成到同一芯片內,各個(gè)處理器并行執行不同的進(jìn)程。與CMP比較, SMT處理器結構的靈活性比較突出。但是,當半導體工藝進(jìn)入0.18微米以后,線(xiàn)延時(shí)已經(jīng)超過(guò)了門(mén)延遲,要求微處理器的設計通過(guò)劃分許多規模更小、局部性更好的基本單元結構來(lái)進(jìn)行。相比之下,由于CMP結構已經(jīng)被劃分成多個(gè)處理器核來(lái)設計,每個(gè)核都比較簡(jiǎn)單,有利于優(yōu)化設計,因此更有發(fā)展前途。目前,IBM 的Power 4芯片和Sun的 MAJC5200芯片都采用了CMP結構。多核處理器可以在處理器內部共享緩存,提高緩存利用率,同時(shí)簡(jiǎn)化多處理器系統設計的復雜度。
電子
化學(xué)機械平坦化 (英語(yǔ):Chemical-Mechanical Planarization, CMP),又稱(chēng)化學(xué)機械研磨(Chemical-Mechanical Polishing),是半導體器件制造工藝中的一種技術(shù),使用化學(xué)腐蝕及機械力對加工過(guò)程中的硅晶圓或其它襯底材料進(jìn)行平坦化處理。
益德隆高速鋼鋸片廠(chǎng)家教你怎么研磨高速鋼圓鋸片才好用? (一)首先就是清洗,需要配合正確的清洗液。
(二)進(jìn)行鋼板的平整度的測試與修復。 (三)檢查刀頭,查看是否崩齒、掉齒,磨損的程度與刀頭是否打彎。
然后進(jìn)行刀頭的修復,磨損嚴重的只能更換了。 (四)放入調試好參數的全自動(dòng)研磨機進(jìn)行自動(dòng)修復了。
然而,機器的預先調試就需要注意砂輪的選擇。砂輪的選擇是注意砂輪的力度,進(jìn)刀速度跟時(shí)間。
(五)對鋸片的檢查。然后進(jìn)行包裝,加上包管。
在這里智欣行刀具給大家的建議是,盡量不要選擇手工修磨。 手工修磨,每次的進(jìn)刀量是難以控制,精度不精準,最致命地導致每個(gè)刀頭不再同一圓內,影響產(chǎn)品的切面效果,增加劃痕,有毛刺,影響下一道工序,直接導致企業(yè)生產(chǎn)效率低下。
另外,正因為是手工操作,削磨量很容易過(guò)重,導致原本能修磨10次的鋁合金門(mén)窗鋸片只能磨3-5次,降低鋸片的使用壽命,進(jìn)而使企業(yè)生產(chǎn)成本增加。 高速鋼圓鋸片研磨后的效果分析 圓鋸片研磨后效果分析也是比較關(guān)鍵的一步,根據實(shí)用情況我們可以判斷,研磨后品質(zhì)如何,研磨前后的對比,并是否達到用戶(hù)理想效果,這一步至關(guān)重要。
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