測試晶體振蕩器的(如何使用示波器測試晶振?)
1.如何使用示波器測試晶振?
晶振包括無源晶振和有源晶振，通過示波器可以測量出晶振的起振波形，下面介紹測量晶振波形的方法。
1。無源晶振用示波器測量波形無源晶振在起振時(shí)兩個(gè)引腳都會有震蕩波形產(chǎn)生，用示波器探頭的負(fù)極接GND，正極接任何一個(gè)晶振引腳即可看到晶振的波形。
一般情況下，無源晶振起振的波形為正弦波，通過示波器可以看到正弦波形，測量其頻率應(yīng)和晶振的起振頻率一致。 有源晶振用示波器測量波形一般情況下，有源晶振有四個(gè)引腳，兩個(gè)供電引腳，一個(gè)輸出引腳，另一個(gè)引腳懸空或者接GND。
在測量時(shí)需要將示波器探頭的正極接輸出引腳，負(fù)極接GND。有源晶振輸出的波形有兩種：正弦波和方波。
這個(gè)主要看晶振是否集成了整形電路，如果內(nèi)部有整形電路則輸出方波，否則輸出正弦波。 測量時(shí)的注意事項(xiàng)在測量晶振波形時(shí)，一定要注意兩個(gè)事情：1）示波器的帶寬；2）負(fù)載電容。
示波器的帶寬一定要高于晶振的起振頻率，至少5倍，否則所測量的波形存在失真。晶振對負(fù)載電容比較敏感，所以測量時(shí)要盡量減少輸入電容對測量的影響。
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2.檢測晶振需要用到什么
一般情況下晶振兩電極間的阻值為無窮大。
首先：將萬用表撥在R*10k擋，兩表筆分別與晶振兩電極相碰，然后觀察表頭指示，指針應(yīng)在無窮大處不動；但是如果指針在無窮大處有輕微擺動，就說明石英晶體片有漏電現(xiàn)象或者是電極觸片與晶體片接觸不良，因?yàn)榻佑|不良就相當(dāng)于電極觸片在晶體片上劃動，就會產(chǎn)生電流，所以指針會發(fā)生輕微擺動；如果指針有偏轉(zhuǎn)，就說明晶體嚴(yán)重漏電；如果指針指到零位，說明晶體已擊穿損壞。另外測試時(shí)請注意：最好不要進(jìn)行在路測試，應(yīng)取下或焊脫一只腳后再進(jìn)行測試，否則誤差會很大，不易判斷。
3.如何校準(zhǔn) trimble 晶振的頻率
晶振分為無源晶振和有源晶振。有源晶振稱為石英晶體振蕩器，可以直接接上電源，用頻率計(jì)測量頻率及用示波器測量幅度。
無源晶振稱為石英晶體諧振器，其參數(shù)很多。較簡易的方法，可以搭載一個(gè)振蕩電路，用頻率計(jì)測量頻率，并替代電阻法，等效得出晶振諧振電阻。并用電容表直接測量晶振靜態(tài)電容。但由于振蕩槽路不平衡，較難測出準(zhǔn)確數(shù)值。
用阻抗計(jì)測量。可以較容易測量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等參數(shù)值，并可通過計(jì)算得出其它相關(guān)參數(shù)。缺點(diǎn)阻抗計(jì)一般數(shù)度有限，頻率值一般誤差在5ppm左右，其支架電感的嚴(yán)重影響，使串聯(lián)諧振頻率相位移較大，同時(shí)又干擾正確測量負(fù)載諧振頻率。另外，其測量有一定的局限性，只能測量質(zhì)量因數(shù)大于60以上的晶振，也不能進(jìn)行功率掃描和寄生掃描。
網(wǎng)絡(luò)分析儀測量。分為專用和通用兩種。專用網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置簡單，可以進(jìn)行全部晶振參數(shù)的測量，但不能它用。通用的網(wǎng)絡(luò)分析儀，設(shè)置較為繁雜，測量參數(shù)有限，但可以通過計(jì)算獲得。
相關(guān)測量方法及標(biāo)準(zhǔn)如下：
SJ/T 10638-1995 《石英晶體振蕩器測試方法》
GB 12274-1990 《石英晶體振蕩器總規(guī)范》
GB/T 12274.1-2012 《有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器 第1部分：總規(guī)范》
IEC 444 1973. Basic method forthe measurementof resonance frequency and equivalent series resis-tance of quartz crystal uNIts by zero phase technique in aπ-network [S].
GB/T 12273-1996石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范 第1部分：總規(guī)范
SJ/T 11210-1999
石英晶體元件參數(shù)的測量 第4部分：頻率達(dá)30MHz石英晶體元件負(fù)載諧振頻率fL和負(fù)載諧振電阻RL的測量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計(jì)算
